Lumencor固態光源在材料科學中的應用

農業及食品檢測 Agriculture and Food Inspection

檢查食品、飲料及其相關包裝需要具備獲取和處理圖像的能力，以獲得有關尺寸、形狀、顏色、缺陷和完整性等參數的信息。為此，關鍵是優化照明強度，均勻性和幾何形狀，以獲得具有良好的對比度和信噪比的顯微圖像。此外，有機和無機材料的光吸收特性各不相同，這使得為這些應用選擇合適的照明波長成為一項挑戰。食品在包裝之前，必須經過種植和收獲。當然，光是植物生長的基礎。Lumencor的固態照明技術在應對這些食品檢驗和質量控制挑戰方面處于領xian地位。

常用產品型號 SOLA、AURA、SPECTRA、MAGMA

光固化和光刻 Photocuring and Photolithography

固態顯微鏡光源是控制引發光聚合反應的理想光源。光聚合反應是廣泛應用的非接觸、原位制造和微結構成型技術的基礎。大量的光聚合反應通常被稱為光固化，而在光刻技術中，空間選擇性光聚合是通過遮蔽照明場來實現的。光聚合的程度受光照強度和持續時間的控制。Lumencor的固態照明系統以微秒計時、反饋調節和光輸出計量的形式提供精確的照明控制。

常用產品型號 SOLA、RETRA

光伏和太陽能 Photovoltaics and Solar Energy

人造光源對于光伏器件制造中的性能驗證，以及新光伏材料開發中的光電導性和量子效率等特性的表征至關重要。傳統上，光伏器件的表征通常采用氙弧燈或鹵鎢燈來近似太陽光譜。然而，它們的光譜輸出不易于控制調整，并且由于其工作壽命也相對較短，長時間(數周至數月)的測試將受到限制。Lumencor的高性能照明器消除了這些限制，并引入了新的功能，例如通過組合多達21個離散固態光源的輸出來獲得任何所需的光譜分布。

常用產品型號 SOLA、MAGMA、RETRA

質量控制和測試 Quality Control and Testing

在質量控制和測試應用中，一致的性能和可靠性是對顯微鏡照明的基本要求。弧光燈和白熾燈不符合這些要求。并且燈泡的使用壽命有限，每200-2000小時就需要更換和重新校準。此外，不同燈泡的輸出功率可能有很大的差異，而且計算機控制操作的能力也非常有限。Lumencor的固態照明技術消除了這些限制，并增加了創新的高性能功能。固態光引擎包含光源陣列，可提供任何所需的光譜分布。這種分布可以通過計算機控制的光源強度調整進一步細化。Lumencor的第三代照明系統是精密的光引擎，集成了板載微處理器，提供校準光輸出和實時性能監控。

常用產品型號 SORA、AURA、SPECTRA

半導體檢測 semiconductor Inspection

控制光的空間、光譜和時間特性對于半導體制造中的缺陷分析和設備測試變得越來越重要。顯微鏡弧光燈和白熾燈受限于有限的使用壽命和缺乏集成到模塊化設計框架中的靈活性。儀器設計人員、工程師和制造商正轉向Lumencor的固態照明技術，以獲得可持續、高性能的解決方案和穩定耐用的制造產品。

常用產品型號 AURA、SPECTRA、MAGMA、RETRA 

顯微鏡 

光學顯微鏡是細胞生物學的一項核心研究技術。然而，它的應用遠遠不止如此，而是遍及到需要微米尺度結構信息的所有研究、制造和測試領域。光學顯微鏡包括多種特定的技術，下面列出了其中的一些。Lumencor的固態光引擎在所有這些方面都表現出色。

寬場熒光顯微鏡 是熒光顯微鏡中zui少專業性也是zui常見的一種。用于顯微鏡的汞弧光源和金屬鹵化物光源多年來無處不在，但因其性能不穩定而備受困擾，如今它們已在很大程度上被無汞、清潔和綠色的高性能固態光引擎所取代。固態光源又分為白光輸出和選色輸出兩種。白光光源是汞弧燈和金屬鹵化物等的直接替代品，具有*的穩定性，更長的使用壽命，更靈敏的控制特性和更低的運行成本。而可以選擇顏色輸出的光引擎消除了多色成像方案中機械式濾光片切換的需求，從而實現更快的數據采集。

共聚焦顯微鏡 通過對激發光進行空間限制來提供三維空間信息。因此，與寬場顯微鏡相比，共聚焦顯微鏡需要更高的初始光強。因此，在共聚焦顯微鏡的應用中，激光光源通常比LED更受青睞。

超分辨率顯微鏡 提供20 - 200nm范圍內的空間分辨率，超出了寬視場熒光顯微鏡(~ 200nm)的限制。與共聚焦顯微鏡一樣，需要空間受限的激發光，通常shou選激光光源。

透射光學顯微鏡 通常需要比熒光顯微鏡更低的光強，因此可以使用更小的被動冷卻光源。多年來占主導地位的鹵鎢燈已經被固態顯微鏡光源所取代。很大程度上是相同的原因，固態顯微鏡光源在寬視場熒光顯微鏡也已經取代了汞弧燈。特別是，固態光源的光譜分布(色溫)不隨輸出光強而變化，這是保持色彩一致性的一個重要優勢。

暗場顯微鏡 利用空間濾波排除未散射的光，從而提供樣品的散射光圖像。在暗場（DF）的照明下，平坦的表面呈現暗色，而裂縫、孔隙和蝕刻邊界等特征則會增強。因此暗場照明可以用于檢測不透明、未染色材料（如半導體晶圓)中的缺陷。由于照明必須經過空間濾波，因此需要比透射光學顯微鏡所使用的光源輸出強度更高的光源。

常用產品型號 CELESTA、ZIVA、SOLA、AURA、SPECTRA、SPECTRA X、MIRA、RETRA、PEKA、LIDA

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