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昊量光電作為LiquiidInstruments公司戰略合作伙伴，為大家隆重推送新品Moku：Delta！Mpku：Delta具有超高帶寬：2GHz、8個模擬輸入和8個模擬輸出、32通道高速數字I/O和Moku：Delta支持15種不同的儀器，并且能夠同時部署多達8臺儀器，在單個2U設備中提供超過20億種可能的測試配置。RFSoCFPGA的部分重配置提供了軟件的靈活性和硬件的性能。Mpku：Delta關鍵規格參數：超高分辨率2G示波器：我們的算法可自動智能地混合來自8個獨立1...
查看全文新品|德國ViALUX-實時PCIe接口DMD空間光調制器PCIe接口|實時流媒體顯示DMD空間光調制器/數字微鏡——紫外、可見光和紅外波段可選引言DLP（數字光處理）技術是一種MEMS空間光調制技術，其應用范圍已經遠遠超出了傳統的多媒體投影領域，在數字光編碼、光處理和工業領域具有廣泛應用。德國ViALux公司提供了廣泛的DLP產品和解決方案，借助V-Module系列產品的高性能和高靈活性，在行業內脫穎而出。V-Module家族以往的Hi-Speed和Superspeed系列...
查看全文多光譜相機作為一種成像技術設備，廣泛應用于農業、環境監測、遙感測繪、工業檢測等領域。它能夠捕捉多個波段的光譜信息，為用戶提供比傳統相機更豐富的數據。本文將詳細介紹它的技術原理以及選型時需要考慮的關鍵因素，幫助用戶更好地選擇適合自身需求的設備。一、技術原理（一）光譜成像基礎光譜成像是一種通過捕捉物體在不同波長下的反射或發射光來獲取其光譜信息的技術。多光譜相機通常能夠捕捉從可見光到近紅外波段的多個離散波段的光譜信息。這些波段的選擇是基于特定應用的需求，例如，植被監測通常會關注紅光...
查看全文膜厚測量儀作為一種關鍵的分析工具，正發揮著越來越重要的作用。它憑借著測量原理和廣泛的應用領域，成為眾多行業的得力助手。下面，讓我們一同深入了解膜厚測量儀的奧秘。測量原理的多樣性膜厚儀的測量原理豐富多樣，以滿足不同材料和場景的測量需求。磁感應原理主要適用于磁性基體上的非磁性涂層，通過測量磁力線在磁性基體與涂層間的變化來確定膜厚；渦流原理則針對非磁性基體上的非導電涂層，利用高頻電流產生的渦流效應來測量膜厚；還有光學干涉原理，利用光的干涉現象，通過分析干涉條紋的變化來精確測量薄膜厚...
查看全文昊量光電攜insion近紅外光譜儀參加第四屆小微型近紅外光譜儀研發與應用交流會并做報告昊量光電攜INSION近紅外光譜儀參加第四屆小微型近紅外光譜儀研發與應用交流會并做報告第四屆小微型近紅外光譜儀研發與應用交流會在3月14到3月16日在常州市順利召開，這次會議地點選擇在南京大學未來創新研究院，由近紅外光譜技術服務平臺、武進南京大學未來技術創新研究院、常州工學院、江蘇大學食品與生物工程學院主辦，北京中儀普眾技術咨詢有限公司承辦，近紅外光譜蘇滬工作站協辦。昊量光電攜insion微...
查看全文邀請函|昊量光電2025年慕尼黑上海光博會不見不散慕尼黑上海光博會于2025年3月11-13日在上海新國際博覽中心舉辦。屆時昊量光電將攜原廠展團亮相光博會，共同展出多款前沿光電產品及技術解決方案，還特別增設云逛展的直播活動，誠邀新老客戶蒞臨E5館5426+5436洽談交流，或在線觀看直播哦！E5館5426+5436重磅新品昊量光電部分重磅新品搶先看！可掃碼預約試用或咨詢產品詳情！點擊圖片即可跳轉到產品詳情！應用速遞本次展品豐富，涉及領域涵蓋生物顯微、半導體檢測、量子光學、激光...
查看全文膜厚測量儀，又稱薄膜厚度測量儀，是一種專門用于精密測量薄膜或涂層厚度的儀器。它基于光學干涉原理，通過光纖技術和干涉光譜分析技術，能夠非接觸、無損傷地測量透明涂層或薄膜的厚度。這種測量方式不僅避免了傳統機械接觸式測量可能帶來的損傷，還大大提高了測量的精度和效率。MProbe系列的工作原理相當精妙。它發出不同波長的光波穿透樣品膜層，膜的上下表面反射光被儀器接收。反射光相互之間的相位差會因薄膜的厚度和折射率不同而發生變化。儀器通過計算這些相位差，結合已知材料的光學參數，可以推導出薄...
查看全文特別是在納米與微米尺度上，膜厚的精準控制對于提升材料性能、優化制造工藝具有至關重要的作用。膜厚測量儀的問世，以其測量精度與廣泛的應用范圍，實現了從實驗室到生產線的無縫對接，為科研與生產的深度融合提供了強有力的技術支撐。膜厚測量儀采用了一系列前沿技術，包括激光干涉、白光干涉、橢偏測量以及電子顯微鏡等，這些技術能夠在納米至微米的尺度上，對薄膜材料的厚度進行高精度測量。相較于傳統的測量方法，膜厚儀不僅測量精度更高，而且測量速度更快，能夠在短時間內提供大量可靠的測量數據，極大地提高了...
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