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激光測量設備

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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉換為頻率變化的測量。當F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在發生變化，通過測量初始腔長，初始頻率和頻率變化，就可實現測量腔長。

型號：廠商性質：代理商
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中遠紅外波前傳感器/波前分析儀
SID4-DWIR中遠紅外波前傳感器/波前分析儀是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統干涉儀的方法。SID4-DWIR波前傳感器是市面上一款同時覆蓋3 - 5微米;m中紅外和8 - 14微米遠紅外的雙波段紅外高分辨率波前傳感器。它非常適合表征紅外光學器件，黑體光源，3.39微米或10.6微米激光和光學系統。

型號：廠商性質：代理商
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多波長動態干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。

型號：廠商性質：代理商
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SID4-UHR超高分辨率波前傳感器/波前分析儀
大口徑超高分辨率波前傳感器/波前分析儀搭載高性能相機，也可提供的激光表征精度。高達512 x 512（可選高至666 x 666）相位取樣分辨率使SID4-UHR成為研究和工業領域中用于光學和激光計量的高性能工具。

型號：SID4-UHR 廠商性質：代理商
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短波近紅外波前傳感器
SID4-SWIR短波近紅外波前傳感器憑借其高取樣分辨率（80 x 64相位取樣點）和高靈敏度，它提供了從900 nm到1.7μm波段的精準波前測量。

型號：廠商性質：代理商
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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度分布，同時也可用于脈沖和連續窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個半透明平行硅鏡組成，其中一個安裝在電機驅動的線性致動器上。

型號：廠商性質：代理商
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SID4-eSWIR短波紅外波前傳感器(波前分析儀)
短波紅外波前傳感器(波前分析儀)將Phasics的四波剪切技術與T2SL探測器結合在一起，提供覆蓋1.0至2.35 µm擴展短波紅外波段的高分辨率波前傳感器。

型號：SID4-eSWIR 廠商性質：代理商
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SID4-NIR近紅外波前傳感器(波前分析儀)
SID4-NIR近紅外波前傳感器(波前分析儀)是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統干涉儀的方法。SID4-NIR是一款高性價比的高分辨率波前傳感器，專門用于測量和對準1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透鏡。

型號：SID4-NIR 廠商性質：代理商
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SID4-UV-HR波前傳感器(波前分析儀)
SID4-UV-HR波前傳感器(波前分析儀)主要特點低至190nm波長感光靈敏 1 nm RMS高相位靈敏度 355 x 280超高相位取樣分辨率

型號：SID4-UV-HR 廠商性質：代理商
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SID4-Bio定量相位成像相機
SID4-Bio定量相位成像相機直接測量透過任何生物標本光的相位，可與任何光學顯微鏡一起搭配使用，能夠測量活細胞樣品及眾多其他透明樣品上有價值的光學數值參數。

型號：SID4-Bio 廠商性質：代理商
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SID4-SWIR-HR高分辨率短波紅外波前傳感器
SID4-SWIR-HR 高分辨率短波紅外波前傳感器是一種創新的解決方案，可用于檢測空間光通信、測試儀表、夜視系統或監控設備中使用的短波紅外光學系統。

型號：SID4-SWIR-HR 廠商性質：代理商
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SID4-UV紫外波前傳感器(波前分析儀)
SID4-UV 紫外波前傳感器(波前分析儀)與其光束分析軟件相結合，可提供完整的激光診斷：波前像差、強度分布、激光光束質量參數（M2、束腰尺寸和位置等）。

型號：SID4-UV 廠商性質：代理商
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