15601689581
Product catalog
點衍射干涉儀的精度檢驗方法點衍射干涉儀（PointDiffractionInterferometer，PDI）是一種基于衍射干涉原理的光學測量設備。它利用激光束小孔后產生接近理想的點光源對物體表面進行測量，可以實現對物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數的高精度測量。點衍射干涉儀不需要標準參考件，可以用于超高精度面型的檢測，是一種非常重要的高精度測量儀器。1.1測試光路測試系統主要由D7點衍射干涉儀主機，準直器，5mm口徑鋁鏡，光學平臺等構成。1.2測試環境溫度：21℃&plus...
查看全文非接觸式金屬膜厚測量儀是一種常見的表面分析儀器，其原理基于光學干涉或者電磁感應等技術。相比于傳統的劃痕法和化學分析法，非接觸式金屬膜厚測量儀具有高精度、快速和不破壞測試樣品等優點，廣泛應用于材料科學、電子工程、光學制造等領域。原理是利用光學干涉原理或電磁感應原理來測定薄膜的厚度。其中，光學干涉法是通過反射光線之間的干涉來測量薄膜的厚度，而電磁感應法則是依靠磁場的變化來檢測薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測量薄膜對光線或磁場的影響上，通過實時監測信號變化來計算出薄膜的厚度。...
查看全文Upto98%光利用率——鍍介質鏡型純相位高速高損傷閾值SLM！液晶空間光調制器（SLM）可以將數字化數據轉換為適合各種應用的相干光學信息，包括雙光子/三光子顯微成像、光鑷、自適應光學、湍流模擬、光計算、光遺傳學和散射介質成像等應用。這些應用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調制器。通過將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數字電路相結合，MeadowlarkOptics現在提供了高分辨率的SLM，這些SLM還具有物理緊湊性和高光學xiao率。圖一：緊湊的HSP1K（1024×...
查看全文膜厚測量儀主要采用了X射線熒光光譜技術（XRF技術），通過發射出的X射線來對材料內部的分子結構進行分析，從而得到材料的厚度和組成。X射線通過材料后，與材料中的元素反應并產生熒光信號，該熒光信號的波長和強度反映了樣品中的元素種類和含量。通過這種方式來測量薄膜的厚度以及成分。應用場景：1、半導體加工在半導體制造業中，不同工藝步驟所涉及的膜厚以及成分都不同，需要采用高靈敏度的儀器來進行檢測。膜厚測量儀能夠精確測量超薄膜，對后續工序制定提供參考。2、金屬材料檢測在金屬材料制造業中，需...
查看全文膜厚測量儀是一種廣泛應用于材料科學和工業生產中的精密測量設備。膜厚測量儀的主要作用是通過利用特定實驗方法和設備對薄膜進行精確測量。膜厚測量儀可以廣泛應用于多個領域，如電子、照明、建筑、半導體、光學、制藥、航空等。1.電子行業在電子行業中，膜厚測量儀被廣泛應用于半導體、面板顯示器、光學存儲器、光電元件等制造產業中。通過利用膜厚測量儀可以幫助生產商更好地掌握產品的質量和性能特征，提高產業的競爭力。2.照明行業在照明行業中，膜厚測量儀的主要應用是幫助測量光伏電池的光電轉化率，以及測...
查看全文無人機載高光譜遙感使作物表型檢測更加高效糧食短缺、人口增長和全球氣候變化推動了提高作物產量的研究。田間作物表型能為作物生長及其與環境的關系提供了重要信息。然而，傳統的車載平臺用于田間試驗采樣和作物性狀參數的確定費時費力，且空間覆蓋范圍有限。這限制了作物科學研究的快速發展。以無人機(UAV)為代表的高通量近地遙感表型平臺靈活、成本低、空間覆蓋廣，已成為獲取田間表型信息的有效途徑。（利用光譜數據評估植物表型特征）將specimAFX10高光譜成像相機集成到無人機上，用于評估中國北...
查看全文光放大技術是指不需要進行光—電—光的轉換，直接對光信號進行實時、在線、透明放大的技術。其核心器件為光放大器，它是一種全光放大器，主要由增益介質、輸入輸出結構等構成，其作用是增強光信號的功率，放大輸入的弱光信號。在光纖通信技術中，由傳統的光電混合中繼放大器到純光放大器是一個重大的飛躍。這意味著光電中繼器中由于電子響應速度和寬帶限制所帶來的“電子瓶頸”的影響將不復存在，利用原有的系統進行高速率信號傳輸將成為現實。同時，它也使得光通信系統中波分復用技術和密集波分復用技術的實現成為可...
查看全文
上海市徐匯區虹梅路2007號6號樓3樓
info@auniontech.com
昊量微信在線客服
昊量微信在線客服
版權所有 © 2025上海昊量光電設備有限公司 備案號：滬ICP備08102787號-3 技術支持：化工儀器網 管理登陸 Sitemap.xml
