Product catalog
純相位空間光調制器在PSF工程中的應用一、引言2014年諾貝爾化學獎揭曉,美國及德國三位科學家EricBetzig、StefanW.Hell和WilliamE.Moerner獲獎。獲獎理由是“研制出超分辨率熒光顯微鏡”,從此人們對點擴散函數(PSF)工程的認識有了顯著提高。Moerner展示了PSF工程與MeadowlarkOpticsSLM的使用案例,用于熒光發射器的超分辨率成像和3D定位。PSF工程已被證明使顯微鏡能夠使用多種成像模式對樣本進行成像,同時以非機械方式在模式...
查看全文1.介紹雙光學頻率梳(簡稱雙光梳)[1]的概念在光頻梳被提出后不久被引入[2-4]。在時域上,雙光梳可以理解為兩個相干光脈沖序列,它們的重復頻率有輕微的偏移。自問世以來,雙光梳光源及其應用一直一個重要研究課題[5]。雙光梳光源與早期用于泵浦探測測量的激光系統有許多相似之處。特別是,利用兩種不同重復頻率對超快現象進行采樣的想法,早在20世紀80年代就已經通過等效時間采樣概念的演示進行了探索[6,7]。在這種情況下,通過frep/的因子,超快動態過程在時域中被縮小到更慢的等效時間...
查看全文問:膜厚測量儀可以測量氟碳漆厚度嗎?答:可以的,可以根據氟碳漆的基材種類選擇不同測量原理的膜厚測量儀,當然能選擇鐵鋁兩用分體款則*。鋼結構氟碳漆由氟碳樹脂、助劑、優質顏填料、溶劑等研制而成的,成分中并不包含強磁金屬元素。所以鋼結構氟碳漆可以用磁性法膜厚測量儀進行漆膜測厚儀測量。如果氟碳漆作為鋁合金,不銹鋼基材的面漆時,往往會與磷化底漆(15um)搭配,由于成分不含強導電性,所以一般使用渦流法膜厚測量儀進行測量其漆膜厚度。膜厚測量儀可以測量氟碳漆厚度嗎鋼結構氟碳漆分為半光型、啞...
查看全文光學顯微鏡中生物細胞的溫度控制面臨的挑戰和解決方案眾所周zhi溫度的變化對化學反應速率和生物機理都會產生影響,如何精準地控制“實驗溫度”以及研究不同溫度下的實驗樣本狀態尤為重要。因此,我們從成像樣品溫度控制面臨的常見問題出發,致力于實現對顯微鏡視野中的溫度進行高靈敏度的熱控制,由此獲得更嚴謹可靠且可重復的數據。圖1:VAHEAT系列溫度控制器一、顯微鏡中溫度控制問題:1.液體樣品蒸發-介質濃度變化,在較冷表面凝結;2.溫度漂移;3.溫度范圍有限(最大45–55°C),標準控制...
查看全文膜厚測量儀采用微電腦進行控制,顯示的時候是采用液晶,整體界面采用的菜單模式,操作面板是PVC,這些都顯示了它的高科技優勢,現如今的高科技產品種類繁多,但是這種儀器的存在會通過它的所有優勢為各種行業提供有效的幫助,從而占據著不可取代的位置。膜厚測量儀的測頭具有自動升降的便利優勢,在測量金屬和其他材料的時候它能夠自動的調節,這樣能夠節省操作人員的工作強度,提高工作效率的同時還保證了準確度。這種儀器的操作方法非常簡單,測量效果準確,能夠顯示出最大值,最小值,平均值,統計偏差,這些數...
查看全文無膜光學麥克風及其應用運用光學手段測量聲音,一種常見的思路是通過光波來檢測聲波誘導的懸臂或反射膜的機械運動。然而,基于移動機械部件(如薄膜)的麥克風(無論是在電氣設備還是光學設備中)都有局限性,因為它們都受到所涉及結構機械特性的影響,這些結構表現為耦合的彈簧-質量系統。例如,包含薄膜或可機械變形的壓電材料的麥克風具有幾個不同的共振頻率。雖然阻尼系統可以改善設備頻率響應的線性度,但會導致靈敏度的降低。XARIONLaserAcoustics是一家奧地利的初創公司,成立于2012...
查看全文鎖相放大器(也稱為相位檢測器)是一種可以從干擾大的環境(信噪比可低至-60dB,甚至更低)中分離出特定載波頻率信號的放大器。Lock-in放大器是由普林斯頓大學的物理學家羅伯特·H·迪克發明的。下面讓我們一起來了解一下多通道鎖相放大器的優勢有哪些吧:(1)由于數字鎖相放大器在輸出通道中沒有直流放大器,可以避免直流放大器的工作特性隨時間變化的不穩定性和由于溫度變化引起的溫度漂移帶來的干擾,這是模擬鎖相放大器不可解決的問題之一;(2)數字鎖相放大器的內部晶振時鐘源隨時間和溫度變化...
查看全文【新品發布】INSION推出高性價比高分辨的微型近紅外光譜儀模塊德國INSION推出高分辨高性價比微型近紅外光譜儀,INSION微型光譜儀是基于中空腔波導設計的,它沒有運動部件。光譜模塊與光電二極管陣列探測器陣列相連,光通光纖和狹縫耦合進入光譜儀,并且在分光模塊腔內被光柵散射。光譜儀本身是一個微模壓的單片器件,包括入口狹縫、聚焦凸面平場光柵和相機反射鏡,這些部件被整體設計在一個羅蘭圓結構中;最后,利用LIGA技術復制了具有光學表面質量的微結構。1.主要特點-單片羅蘭圓設計保證...
查看全文昊量微信在線客服
昊量微信在線客服
版權所有 © 2025上海昊量光電設備有限公司 備案號:滬ICP備08102787號-3 技術支持:化工儀器網 管理登陸 Sitemap.xml